滴水、淋雨條件試驗及噴頭排列說明

滴水、淋雨條件試驗及噴頭排列說明

A.1總則

光學(xué)儀器在整個使用期限內(nèi)，將暴露在多樣性的環(huán)境影響下，如出船舶的沖擊. 浪花或者濺水引起的淋rITi、浸水及淋水等. 本部分表述滴水、淋雨的暴露試驗. GB/T 12085. 8 規(guī)定抗浸沒和浸水的能力。

淋水常用來模擬由于冷凝或泄漏從而導(dǎo)致水自高處噴灑到儀器所造成的影響. 其液滴尺寸大于2mm.然而淋水試驗容器也常用來模擬小量雨對儀器的影響，可能不是真正暴露在雨中而是由于防意外保護而短時間暴露在雨水中。例如：照相機系統(tǒng)。滴水環(huán)境試驗方法72，嚴酷等級01或者02，都屬于這種暴露實驗類型。

光學(xué)儀器上雨滴所產(chǎn)生的影響與GB/T 12085.2中規(guī)定的潮濕環(huán)境中的暴露試驗作用類似;但其

影響不同。以點滴形式噴淋的水，由于表面張力， 不像水蒸氣那樣更容易滲入儀器或零件內(nèi)。水在淋雨

試驗中不考慮潛在的腐蝕現(xiàn)象，這與暴露在水蒸氣的情形不同。

滴水的尺寸越小，暴露時間越長，則淋麗速度增加就越強. 為了便于在暴露過程中測量滴水尺寸以及其恒定性，本部分對時間無要求。產(chǎn)生微小滴水的噴頭在GB/T 12085 中將會詳細說明（<2mm）。

嚴酷等級中的條件符合自然環(huán)境。條件試驗方法73 ，嚴酷等級01模擬在歐洲預(yù)期的戰(zhàn)大淋雨量，即持續(xù)5 min 且雨速為7mm/min.這個周期被延長至30min，因為在歐洲，3mm/min~7mm/min的傾盆大雨的持續(xù)時間超過了30min。的全局雨速能達到20mm/min且持續(xù)時間為5min，包括在嚴酷等級02內(nèi)。殘酷等級為02時，其暴露時間一般為30min.不僅是為了加強試驗，也是為了部分模仿低強度降雨但持續(xù)時間相應(yīng)增加的情形. 比如，在印度、緬甸合印尼(24h內(nèi)600mm的降雨量和1年內(nèi)12000mm的降雨量）

條件試驗74的兩邊比條件試驗73小.但試驗方法74中當雨水沖擊在試樣上，由強風引起的噴濺合漩渦作用于試樣上的應(yīng)力比條件試驗73中嚴重得多。

鍍層厚度測量

A.0引言

A.0.1常規(guī)方法

如果將本附錄給出的各種方法正確應(yīng)用于自相適應(yīng)的試樣的鍍層厚度測量，可以認為這些方法都具有足夠的準確度。應(yīng)選擇一種預(yù)計能得到最可靠結(jié)果的方法用于鍍層厚度的常規(guī)測量，選用時應(yīng)考慮鍍層厚度、零件形狀、零件尺寸、鍍層成分、基本材料等因素。

如果能確定在特定的應(yīng)用中有比本附錄給出方法更好的或同樣好的其他方法，也可采用。

A.0.2仲裁方法

A.0.2.1一般要求

在有爭議的情況下，應(yīng)采用A.0.2.2到A.0.2.6提出的仲裁方法。對于庫侖法和分析法，錫的密度值應(yīng)取為7.30g/cm³，即使這樣取值可能造成鍍層厚度值的測量結(jié)果小于真實厚度。

A.0.2.2局部厚度大于9μm

采用A .1.2規(guī)定的庫侖法測定;不能采用庫侖法測定時，采用A.1.1規(guī)定的顯微鏡法測定。

注：采用庫侖法測量底鍍層厚度時，應(yīng)首先除去錫鍍層，采用庫侖法溶解錫鍍層或按A.2規(guī)定喲分橋法退鍍都能達到目的。

A.0.2.4銅、鎳或鋼基體上錫鍍層的平均厚度

采用A.2規(guī)定的分析法測定。

A.0.2.5底鍍層的平均厚度及基體(例如鋁基體)加底鍍層上錫鍍層的平均厚度

采用A.1.2規(guī)定的庫侖法測定;不能采用庫侖法測定時，采用A.1.1規(guī)定的顯微鏡祛測定。顯微截面應(yīng)通過試片中心，沿顯微截面間距均勻地至少取五點測量。

A.0.2.6帶電鍍通孔的線路板錫鍍層厚度

采用A.1.1規(guī)定的顯微鏡法測定。顯微截面應(yīng)平行于孔的軸線，并垂直于要測量的鍍層或覆層表面（見GB/T 6462）。

A.1局部厚度測量

A.1.1顯微鏡法

采用GB/T 6462規(guī)定的方法測量厚度時，在錫鍍層上應(yīng)加鍍厚度不小于10μm的銅保護鍍層。

本方法測定厚度值準確度通常為±0.8μm厚度大于25μm時，不確定度不大于5％。

A.1.2庫侖法

采用GB/T 4955規(guī)定的方法測量厚度。通常本方法測定厚度值不確定度不大于IO％。

A.1.3β射線反向散射法

采用QB/T 3819規(guī)定的方法測量厚度。本方法要求所用的儀器及其操作能使鍍層厚度測量的不確定度不大于其真實厚度值的10%;此不度取決于鍍層單位面積的質(zhì)量和基體材料的有效原子序數(shù)。

A.1.4x射線光譜法

采用GB/T 16921規(guī)定的方法測量厚度。本方法要求所用的儀器及其校準與操作能使鍍層厚度測量不確定度不大于其真實厚度值的1o%。

A.2平均厚度測量

A.2.1原理

已知表面積的一個適當?shù)囊彦冊嚇?font face="Calibri" style="padding-bottom: 0px; margin: 0px; padding-left: 0px; padding-right: 0px; font-family: Verdana, Geneva, sans-serif; padding-top: 0px">(若試樣較小，則為一組試樣)，經(jīng)清洗、稱重、用化學(xué)退鍍液退除其鍍層，再稱重。

本方法一般不適用于不能確定表面面積的異型件和工件或某些金屬(見C.2.5)上的鍍層。在此情況下，建議用若干顯微截面測量的平均值作為平均厚度值(見GB/T 12334)。

A.2.2試劑

在測量過程中，只能使用分析級試劑和蒸餾水或與其純度相當?shù)乃?/div>