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冷熱沖擊試驗(yàn)箱系統(tǒng)控制電路該機(jī)的系統(tǒng)控制電路以微處理器 TMP47C 〗 01P(IClK 復(fù)位芯片 IC4 、電壓比較器 IC2 為核心構(gòu)成。冷熱沖擊試驗(yàn)箱基本工作條件 ▲ 、 CPU 進(jìn)入正常工作狀態(tài)，需具備

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2017-03

介紹冷熱沖擊試驗(yàn)箱不化霜的問(wèn)題

介紹冷熱沖擊試驗(yàn)箱不化霜的問(wèn)題 ▲ 、通過(guò)故障現(xiàn)象分析，故障主要是由于微處理器電路、化霜加熱電路、化霜供電電路、化霜溫度檢測(cè)電路異常所致。提示化霜電路異常使風(fēng)扇的扇葉凍

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2017-03

有關(guān)冷熱沖擊試驗(yàn)箱常見(jiàn)故障檢修

有關(guān) 冷熱沖擊試驗(yàn)箱常見(jiàn)故障檢修冷熱沖擊試驗(yàn)箱沒(méi)有 5V 供電 ▲ 、通過(guò)故陣現(xiàn)象分析，該故障主要是由于市電供電系統(tǒng)、低壓電源異常所致。 ▲ 、提示因?yàn)槲覈?guó)目前的市電電壓比較穩(wěn)定

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太陽(yáng)能光伏紫外線試驗(yàn)機(jī)給我們工業(yè)帶來(lái)的保

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2017-03

太陽(yáng)能光伏紫外線試驗(yàn)機(jī)給我們工業(yè)帶來(lái)的保

太陽(yáng)能光伏紫外線試驗(yàn)機(jī) 給我們工業(yè)帶來(lái)的保障 ▲ 、太陽(yáng)能光伏紫外線試驗(yàn)機(jī) 的選購(gòu)讓我們?cè)诤芏嗟臅r(shí)候不光要對(duì)廠家的規(guī)模和廠家的實(shí)力進(jìn)行著綜合的考察，在很多時(shí)候我們了解到的太

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2017-03

低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)非散熱試驗(yàn)樣品

低溫沖擊試驗(yàn)機(jī) 非散熱試驗(yàn)樣品；、規(guī)定的試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從低溫沖擊試驗(yàn)機(jī) 內(nèi)空氣溫度開(kāi)始到達(dá)與規(guī)定試驗(yàn)溫差在 3C 以內(nèi)時(shí)箅起。無(wú)強(qiáng)迫空氣循環(huán)試驗(yàn)時(shí) 低溫沖擊試驗(yàn)機(jī) 大小對(duì)試驗(yàn)樣品表

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2017-03

低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)故障的檢查步驟有那些呢？

低溫沖擊試驗(yàn)機(jī) 故障的檢查步驟有那些呢？依據(jù)完好低溫沖擊試驗(yàn)機(jī) 應(yīng)具備的性能 , 在對(duì)故障低溫沖擊試驗(yàn)機(jī) 進(jìn)行檢修時(shí) , 為了能迅速準(zhǔn)確地判斷低溫沖擊試驗(yàn)機(jī) 的故障位置 , 可按聽(tīng)、摸

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